半導體冷熱沖擊測試主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環變化條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

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