可程式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室適用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能指標(biāo)。

　　可程式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室性能參數(shù)：

　　※溫度范圍 低溫：A：0℃ ;B：-20℃ ;C：-40℃ D:-60℃/ 高溫：80℃

　　※濕度范圍 20%-98%R.H(特殊要求：5%～98%RH;10%～98%RH：20%～98%RH)

　　※控制方式 微電腦PID+SSR+Timer

　　※規(guī)格尺寸 依客戶空間尺寸大小而設(shè)計(jì)

　　可程式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室特點(diǎn):

　　※采用特殊之風(fēng)路結(jié)構(gòu)，分布均勻性佳。

　　※采用環(huán)保冷媒，符合標(biāo)準(zhǔn)。

　　※LCD顯示屏幕，采對(duì)話框形式，操作簡(jiǎn)單，美觀大方。

　　※具備安全保護(hù)裝置及停電記憶。

　　※故障發(fā)生時(shí)，顯示故障之原因，幫助故障排除。

　　※可連接電腦，記錄器(選配)。

　　步入式恒溫恒濕試驗(yàn)房制造參照標(biāo)準(zhǔn):

　　GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》的要求;

　　★電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2);

　　★GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法;

　　★GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法;

　　★GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn);

　　★GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》;