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    民用電子產(chǎn)品常用的環(huán)境可靠性測試設(shè)備

    更新時間:2022-02-09      點擊次數(shù):2190

      為了使產(chǎn)品能達到預(yù)定的可靠性指標,在研制階段需要對樣品進行可靠性試驗,以便找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問題,而加以改進,經(jīng)過反復(fù)試驗與改進,就能不斷地提高產(chǎn)品的各項可靠性指標,達到預(yù)定的要求。以下是由三木科技整理的適應(yīng)不同環(huán)境的可靠性試驗設(shè)備:

      一、高溫烤箱

      考核在不增強電應(yīng)力的情況下,高溫對產(chǎn)品的影響。有嚴重缺陷的產(chǎn)品處在非平衡態(tài),是不穩(wěn)定態(tài),由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過渡過程既是誘發(fā)有嚴重缺陷產(chǎn)品失效的過程,也是為了促進產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過渡過程。

      試驗標準:GB/T 2423.2-2008

      二、高低溫試驗箱

      考核產(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對高溫和低溫環(huán)境的承受能力.是針對產(chǎn)品熱機械性能設(shè)置的。當構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差,或部件內(nèi)應(yīng)力較大時,溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。如漏氣、內(nèi)引線斷裂、芯片裂紋等。

      試驗標準:IEC68-2-30 ,GB10592-93 ,GB2423.1-2001,GB2423.2-2001,GB2423.3-93,GB2423.4-93

      三、熱沖擊試驗箱

      試驗產(chǎn)品在溫度劇烈變化,就是承受大溫度變化速率的能力。試驗為了找出產(chǎn)品的機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化,從而改善,熱沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的目的大同小異,不過熱沖擊試驗的條件比溫度循環(huán)試驗要嚴酷得多。

      試驗標準:GB/T 2423.59-2008, GB11158, GB10592, GB10589

      四、高低溫低氣壓試驗箱

      試驗產(chǎn)品在低氣壓工作環(huán)境的適應(yīng)能力。當氣壓減小時空氣或絕緣材料的絕緣強度會減弱;易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗等;氣壓減小會導致散熱條件變差,會使元器件溫度加大。這些因素都會使被試驗產(chǎn)品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功能,有時會產(chǎn)生損傷。

      試驗標準:GB/T 2423.21-2008, GJB150.2, GJB360A, GB/T13543

      五、恒溫恒濕試驗箱

      以施加加速應(yīng)力的方法評定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力,是針對典型的熱帶氣候環(huán)境設(shè)計的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機理是由化學過程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過程。試驗也考核在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性,電解會使絕緣材料電阻宰發(fā)生變化,使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)酢?/span>

      試驗標準:GB/T 2423.3-2016, GB/T 2423.4-2008 GJB 1509, GB/T 2423.34-2016

      六、鹽霧試驗箱

      以加速的方法評定元器件外露部分在鹽霧、潮濕和炎熱條件下抗腐蝕的能力,是針對熱帶海邊設(shè)計的.表面結(jié)構(gòu)狀態(tài)差的元器件在鹽霧、湘濕和炎熱的狀態(tài)下外露部分會產(chǎn)生腐蝕。

      試驗標準:GB/T 2423.17-2008, GB/T 10587-2006, GB/T 10125-2012


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